DDR3内存信号完整性测试的优方案是什么？
DDR3内存信号完整性测试的优方案应该选择系统带宽大于9.7GHz的测址系统，且采用BGA探头适紀器将BGA封装的焊盘引到BGA探
头适配器表面作为测试点，然后进行读信号和写信 号分离时.选择逻辑触发分高法。
当考虑到成本问题时，很多厂家会选择测量系统带宽低、探测位置和触发方式相对廉价的测试方
案，但是为了保证精确、完整、真实的测量出待测信号的信号质或至少需要确保以下几点：测量系 统的上升时间比待测信号上升时间快3倍；探测点应
越靠近焊盘越好，且好在信号走经的终端测量； 触发方式好选择剛度和时仔上都能触发的可视化
触发方案.以便可以将读写伯号轻易分离。
淼森波实验室高速电路测试服务项目有：
①
SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。
②
PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值(精度)、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。
③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display
Port、PCIE。
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