1.X射线荧光光谱仪(XRF)简介
利用初级X射线激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析的仪器。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。
X射线荧光光谱分析本质上是表面分析。因此,要确保样品表面不受污染。X射线荧光分析是表面分析法,分析深度只有1到几微米。
2.XRF原理
初级X射线与原子发生碰撞时,驱逐出一个内层电子而出现一个空位,使整个原子处于激发态,核外电子自发地由高能态跃迁到低能态,跃迁所产生的的能量以辐射的形式放出,即X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。由于每种元素原子的电子能级是特征的,它受到激发时产生的X-荧光也是特征的,因此只要测定X射线的能量或者波长就可以判断出原子的种类和元素组成,根据X射线的强度就能定量测定所属元素的含量。
3.XRF基本构造
上:波长色散型:在波长色散X射线荧光光谱仪中,晶体被安装在样品和探测器之间,晶体和探测器按Bragg公式移动,以测量特定波长的荧光X射线。
下:能量色散型
XRF应用
金属,合金等元素分析
陶瓷,玻璃,水泥等元素分析
环境元素分析
食品,化学元素分析
其他
米格实验室自有设备信息
1.型号:Rigaku ZSX primus II
2.一次可放样品数量:24
3.样品盒型号:根据测试尺寸,分别是直径5mm,1cm,2cm,3cm
4.样品盒分类:普通样品盒,微区分析样品盒
5.样品尺寸:最小直径5mm,最大尺寸是直径51mm,厚度30mm
6.目前可做样品类型:块体,薄膜,由于没有粉末压片机,粉末样品暂时做不了
7.定性分析,元素微区分布分析(特色)
8.测试元素范围F-U,定性半定量分析
设备特色能力展示-微区元素分析
每个采集点元素的浓度