1.X射线产生
原子结构由原子核及核外电子组成,每个核外电子都以特定的能量在固定轨道上运行。当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子(如:K层)而出现一个空穴,使整个原子结构处于不稳定状态,较外层电子(如:L层)就会自发地跃迁到内层来填充这个空穴。不同壳层之间存在能量差(如:ΔE=EL-EK),当跃迁过程中能量差以二次X射线的形式释放出来时就可以发射特征X射线荧光。
一般原子序数小于55的元素常用K系谱线作为分析线,原子数大于55的元素,常选用L系作为分析线
2.荧光分析原理
每一种元素都有其特定波长(或能量)的特征X射线。由Moseley定律可知,元素的荧光X射线的波长(λ)随元素的原子序数(Z)增加,有规律地向短波方向移动。
(1/λ)1/2 = K(Z-S)
上式中K、S为常数,随谱系(L、K、M、N)而定。通过测定样品中荧光X射线的波长,就可以确定样品中元素的种类信息。同时,通过测定荧光X射线的荧光强度从而推算出元素的浓度
3.荧光光谱仪组成
荧光光谱仪包括:荧光激发器、滤光片、样品杯、准直器、分光晶体(根据波长范围而选择不同类型的晶体)、检测器、脉冲分线器、计算机。